世复检测

温度冲击测试

1.温度冲击测试标准:

中国移动TD终端测试规范--结构及硬件V2.0

GB/T 2423.22-2002 Environmental testing for electric and electronic products Part 2: Test N: Change of Temperature 

IEC 60068-2-14,YD/T 1539-200

2.温度冲击测试方法:

  (1) 对试验样品进行外观、功能和装配的检测。

  (2) 测试样品关机状态下放入温度冲击试验箱。

  (3) 设定温湿度实验箱的低温区温度为-25 ±3°C,高温区温度为+55 ±3°C。测试样品在两个温度条件下各持续30分钟(包括0-3分钟的温变时间)为一个循环,共执行5个循环。

  (4) 循环结束后至少在室温下恢复2小时,对测试样品进行外观,功能和装配的检测。


3.温度冲击判断标准:

  (1) 测试样品功能不可发生任何失效或削减,包括但不限于以下功能,如开关机,拨打接听电话,屏幕显示,按键功能,照相预览、拍照和保存,马达功能,电池充电,铃音播放、麦克和听筒功能等。

  (2) 测试样品不能有机械结构的损坏,包括但不限于以下现象,如显示屏的破裂、漏液,外部或内部器件的脱落,壳体的开裂,不可恢复性的缝隙,结构件或电池的变形,转轴异响,滑轨异常等。

  (3) 测试样品不能有材料的明显退化,包括但不限于以下问题,如退色,起皮,鼓泡,喷漆的脱落,材料软硬的明显变化等。

手机温度冲击测试

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温度冲击试验 【关键词】:温度冲击试验,温度冲击测试,上海世复检测技术服务有限公司 2014年03月05日

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