世复检测

微跌落测试

1. 微跌落测试标准:
中国移动TD终端测试规范-结构及硬件V2.0

2. 微跌落测试方法:
(1) 对试验样品进行外观、功能和装配的检测。
(2) 设定跌落试验机跌落高度10cm,保证测试样品处于开机状态。
(3) 按下述数字顺序对试验样品的六个面依次进行微跌落测试,每个面跌落200次。完成后对测试样品进行外观、功能和装配的检测。

3. 微跌落测试判断标准:
(1) 测试样品功能不可发生任何失效或削减,包括但不限于以下功能,如开关机,拨打接听电话,屏幕显示,按键功能,照相预览、拍照和保存,马达功能,电池充电,铃音播放、麦克和听筒功能等。
(2) 测试样品不能有机械结构的损坏,包括但不限于以下现象,如显示屏的破裂,外部或内部器件的脱落,壳体的开裂,不可恢复性的缝隙,结构件或电池的变形,转轴异响,滑轨异常等。
(3) 测试样品不能有材料的明显退化,包括但不限于以下问题,如大面积退色及喷漆的脱落等。
(4) 可以接受轻微划痕或可手动恢复得微小缝隙。

4. 微跌落测试设备:


如需了解更多微跌落测试测试,请咨询上海世复检测中心。
服务热线:021-5130-0821
公司邮箱:E-mail:sales@sft-lab.com.cn
公司地址:上海市闵行区梅陇西路968号


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